High Power Komplettsystem

Dieses Messsystem bietet eine All-in-One-Lösung zur High Power Charakterisierung

  • Vollständiger automatischer Prozess
  • Ermöglicht hochgenaue Charakterisierung
  • Einfache Erweiterbarkeit mit MeasMatic für zukünftige Anforderungen
  • On wafer & Packaged in nur einem System
  • Flexibilität mit benutzerdefinierten Testplänen

Dieses Messsystem bietet eine Komplettlösung zur Charakterisierung von 2- und 3-poligen Leistungsbauelementen als Feldeffekttransistoren (FETs), BJT-Transistoren (Bipolar Junction), Dioden, Kondensatoren bis zu 3 kV und 100 A.

Durch das einmalige Kontaktieren des Prüflings können alle relevanten Parameter von Off-State und On-State sowie charakteristische Kapazitäten (Ciss, Coss Crss) gemessen werden. Die IV-Charakterisierung kann sowohl gepulst als auch im DC-Modus erfolgen. Das System arbeitet somit auf Wafer-Level und kann auch für verkappte Bauelemente genutzt werden.

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