VC20™
Nadelkarten-Lösung für eine Vielzahl von Tests
- Keramik-Nadelkarte mit 20 mm Durchmesser
- Optimiert für parametrische Gleichstromtests, Modellierung und Charakterisierung sowie WLR
- Kann mithilfe eines Schnittstellenwerkzeugs schnell in verschiedene Schnittstellen installiert werden und benötigt nur minimalen Speicherplatz im Testbereich
- Kann mit bis zu 48 Nadeln konfiguriert werden
- Channel-to-channel Leakage < 5fA/V @10 Sekunden und 25°C
- Temperaturbereich -65 °C bis +200 °C kontinuierlich
- Standard-X/Y-Genauigkeit 10 % Padgröße
- Standard-Z-Genauigkeit +/- 5 Mikrometer
Die 20 mm VC20™ mit Advanced Cantilever™-Technologie ist eine äußerst anpassungsfähige Probecard-Lösung für eine Vielzahl von Tests, einschließlich Modellierung und Charakterisierung, Zuverlässigkeit auf Waferebene oder parametrische Tests. Sie kann leicht mit verschiedenen Schnittstellen kombiniert werden, um modulare Probecards zu erstellen, die Keithley, Keysight oder andere benutzerdefinierte Testerplattformen unterstützen.
- Modular
Austauschbare Probecard, universelle Motherboards - Schneller Wechsel
von einer Nadelkarte zur nächsten mit einem Einsteckwerkzeug - Oder automatisiert
Indexer TM kann bis zu fünf VC20 TM mit Advanced CantileverTM-Technologie-Kernen unterstützen - Anpassbare PCB
Integriert in VC20 TM mit Advanced CantileverTM-Technologie Probecard zur Unterstützung von Widerstands-IDs, Kondensatoren, Induktoren, EEProms nur 12 mm von den Prüfspitzen entfernt
Interessante Produkte
Quietest cables in the Industry. Get the most out of your probe card.
zum Produkt