AOI Serie

Seit 2009 bietet die MPI fortschrittliche automatische optische Inspektionssysteme (AOI) an, die die Prober- und Sorter-Lösungen ergänzen. Mit einem starren Tisch, einem präzisen Bildverarbeitungssystem, intelligenten Bildanalysealgorithmen und innovativen Lichtquellen bietet die AOI-Serie der Marke LEDA eine schnelle und genaue Inspektion von GaAs, GaN und vertikalen Halbleitern.

Im LED-Chipprozess sind die AOI-Systeme der Marke LEDA auf die Fehleranalyse nach dem Probing/Sortierung spezialisiert. Das System erkennt nicht nur Chipbeschädigungen- und Sägefehler, sondern auch kritische Aberrationen wie Fingerschäden, Abschälen aktiver Bereiche, Pad-Kontamination, Mesa-Berührungen und mehr. Diese Systeme beinhalten auch professionelle Kassettensysteme, die höchsten Durchsatz und flexibles Produktionsmanagement ermöglichen.

A3000-V

Hochentwickelte Prober- und Messsysteme für Micro-Display-Anwendungen

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