Referenten 2024
Nutzen Sie die einzigartige Gelegenheit sich mit führenden Experten und Branchenkollegen auszutauschen, neueste Trends und Produkte kennenzulernen und wertvolle Einblicke in aktuelle Praxisanwendungen zu gewinnen. Freuen Sie sich auf, spannende Vorträge, Live-Demos und individuelle Beratungsgespräche.
| Name | Firma | Thema |
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| Markus Kaden | AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH | Measmatic - Universelle Testlösungen für Labor & Produktion Measmatic ist eine einfach zu benutztende und interaktive Anwendung zur Automatisierung von Messabläufen. Einsatz findet Measmatic bei der Prüfung und Charakterisierung elektronischer Komponenten und wird sowohl im Labor als auch in der Produktion genutzt. In dieser Präsentation werden wichtige Key-Features der Software demonstriert und anhand eines Beispiels der einfache Einstieg in die Nutzung von Measmatic gezeigt. |
| Stefan Franke | AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH | High Power - Systeme Mit den High Power Testsystemen der ATV werden innovative Lösungen zur Charakterisierung, Prüfung und Validierung elektronischer Komponenten in der Leistungselektronik vorgestellt. Diese Systeme umfassen Umschaltkomponenten zwischen Hochspannung und Hochstrom, Adaptionslösungen an Bauelemente und Stecksysteme , Langzeit-Testsysteme sowie Hochspannungs-Messplätze. Ziel der Präsentation ist es, die Vorteile und Möglichkeiten unserer Testsysteme aufzuzeigen und diese in einer Live-Demonstration vorzuführen. |
| Ian Cheng | AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH | Celadon - VersaJet - Anti Arcing Solution High voltage measurement often demands anti-arcing solution to understand the device characteristic. VersaJet, a CLEAN anti arcing solution that only requires CDA to achieve higher breakdown voltage is demonstrated here. By efficiency, complexity and accessibility, it is one of the best replacement solution beside Fluorinert submersion method. In the presentation I will explain how this is done and follow me to the lab for LIVE VersaJet demo. |
| Artjom Bergmann | Tektronix GmbH | 4200A-SCS Features & Benefits |
| Marcus Verhoeven | aSpect Systems GmbH | Measurement as a service |
| Andre Charpentier | Anritsu | RF Testlösungen mit atv & mpi |
| Paulius Sakalas | MPI Corporation / AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH | VNA Calibration live - VNA calibration basics: 8, 12 error term methods, calibration methods, calibration substrates. - RF probes, GSG, GS, dual GSGSG, available probe tip pitches, dependence on frequency, temperature. - QAlibria software: general overview and features. - VISA database for VNA connection to QAlibria. - Setting QAlibria for manual and automated probe stations: probe setting first for manual stations and for automated: substrate definition first. - Setting RF power, calibration reference plane, available frequency and IF frequency averaging, Raw data visualization bars, model-based verification, reference device verification, Repeatability verification test. - Automated calibration: probe usage register, home die, substrate alignment, calibration standard selection, home die selection. - Calibration methods: which one is good for. SOLT, TMRR, LRM, mTRL, TRL. - Calibrated data display. QAlibria as a measurement tool for passive devices. - Database editor for on wafer cal kit creation. - Hands on real calibration- measurements with VNA and 67 GHz probes. |
| Marco Fritzsche | Polytec GmbH | Waferbasierte MEMS Charakterisierungen Polytec bietet mit dem MSA – Micro System Analyzer – ein System an, das sowohl zur Vermessung des dynamischen Schwingungsverhaltens von MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) als auch zur Messung der 3D-Oberflächenstruktur und Topographie geeignet ist. Dabei können Schwingungen außerhalb der Ebene (Out-of-Plane) an Membranen, PMUT-, CMUT-, SAW, BAW- oder Cantilever-Strukturen berührungslos mittels eines Scanning-Laser-Doppler-Vibrometers mit höchster Präzision bis in den GHz-Bereich erfasst werden. Schwingungen innerhalb der Ebene (In-Plane) können beispielsweise von Inertialsensoren mittels Video-Stroboskopie visualisiert werden. Darüber hinaus ermöglicht die Weißlichtinterferometrie des MSA die präzise, berührungslose Erfassung der 3D-Oberfläche von Mikrostrukturen. Im Vortrag wird gezeigt, wie es gelingt, diese Messverfahren in Zusammenarbeit mit dem Partner ATV künftig auch in Produktionsumgebung auf Wafer-Ebene einzusetzen. |
| Botho Hirschfeld | MPI Corporation | DC Probesysteme - Low Leakage Die MPI Corporation bietet eine breite Palette von Waferkontaktierungslösungen für die Halbleiterindustrie an. In diesem Vortrag liegt der Schwerpunkt auf Systemen, die in der Lage sind, kleinste Ströme und Spannungen präzise zu messen. Dabei werden Aufbauten vorgestellt, die für Zuverlässigkeitsuntersuchungen an Bauelementen sowie zur Charakterisierung von 1/f-Rauschen erforderlich sind. Anhand konkreter Beispiele wird erläutert, wie die Messungen mit den Maschinen zuverlässig und zeitlich effizient durchgeführt werden können. In einer Demonstration wird ein 300-mm-Automatikprober in Kombination mit einem Keithley SCS4200 und ATV Measmatic vorgestellt. |
