Wissendatenbank

Hier finden Sie Anwendungsbeispiele, Referenz-Guides, Präsenationen und wissenschaftliche Veröffentlichungen unserer Partner.

 

Kundenspezifische Nadelkarte für die On-Wafer-Prüfung von AlGaN / GaN-Leistungstransistoren

 

In dieser Präsentation demonstriert Celadon Systems, Inc. erfolgreich wie der VC20 VersaCore™ und der 45E-Nadelkartenhalter zum Testen von GaN-Leistungsbauelementen für Schaltanwendungen eingesetzt werden.

 

Charakterisierung von Leistungsbauelementen bei 3kV in einem bestimmten Temperaturbereich

 

In dieser Präsentation weist Celadon Systems, Inc. die erfolgreiche Implementierung des hybriden HV / LV-Systems nach, welches für das Labor oder die Produktion bis zu 3000V Celadon VC20 VersaCore™, den 45EHV-Prüfkartenhalter und das Keithley S540-Testsystem geeignet ist.

 

Trendsetting Methodologies for Wafer-Level RF Measurements

 

Dieser Anwendungshinweis beschreibt einzigartige integrierte Lösungen, welche von MPI Corporation und Rohde & Schwarz entwickelt wurden, um die schwierigsten Wafer-Level-Messanforderungen der modernen Funkgeräte und integrierter Schaltkreisen zu erfüllen.

 

Simplifying the Art of Terahertz Measurements

 

Dieser Anwendungshinweis beschäftigt sich mit den einzigartigen Lösungen, die von der MPI Corporation entwickelt wurden, um die Herausforderungen durch die Wafer-Level-Kalibrierung und Messungen im THz-Frequenzbereich zu  adressieren.

 

TITAN™ RF Probe Quick Setup Guide

 

Diese Kurzanleitung diskutiert wie TITAN Sondenhalter zu säubern, zu gebrauen und einzuebnen sind, damit konsistente Mess- und Kalibrierungsergebnisse über den längstmöglichen Zeitraum gewährleistet werden kann.

 

MPI TITAN™ Probe Calibration for WinCal XE Users

 

Diese Kurzanleitung ist eine Schritt-für-Schritt-Anleitung für WinCal XE Benutzer für eine erfolgreiche Kalibrierung von TITAN-Sondenhaltern und der AC-x-Familie von Kalibrierungssubstraten der MPI Corporation.

 

C-V Measurements at the Wafer-Level

 

Diese Kurzanleitung stellt Lösungen von MPI für genaue CV-Messungen, Kalibrierung des Systems hinsichtlich der Sondenspitzen und einer generellen Überprüfung der Kalibrierung.

 

On-Wafer Small-Signal and Large-Signal Measurements up to Sub-THz Frequencies

 

Dieser wissenschaftliche Artikel beschreibt Herausforderungen bei der On-Wafer-Kalibrierung in Millimeterwellenfrequenzen, welche die Grundlage für genaue Messungen und Charakterisierung von aktiven und passiven Geräten bilden.

 

Temperature Impact on the In-Situ S-Parameter Calibration in Advanced SiGe Technologies

 

Dieser Artikel analysiert lokale S-Parameter mehrzeiliger TRL und den Transfer von TMR Kalibrierverfahren für die Empfindlichkeit bei thermischen Veränderungen der elektrischen Eigenschaften des Kalibrierungsstandards.

 

On-Wafer S-Parameters & Uncertainties

 

Diese Präsentation beschreibt die Grundlagen der S-Parameter-Messung und Kalibrierungstechniken auf Wafer-Ebene. Besonderes Augenmerk gilt dabei der Wahl des richtigen Kalibrierverfahrens sowie der Festlegung der Kalibrierungsreferenzimpedanz eines kalibrierten Systems. Abschließend werden die potentiellen Quellen verbleibender Kalibrierungsfehler analysiert und praktische Beispiele gegeben, wie die Auswirkungen dieser Fehler auf die Messgenauigkeit eines kalibrierten Sondensystem minimiert werden können.

 

mm-Wave Calibration and De-Embedding

 

Diese Präsentation beschreibt die Grundlagen von Wafer-Level-Kalibrierung und De-Embedding und konzentriert sich auf deren optimale Umsetzung.

 

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