Die manuellen MPI Probe Stations TS50, TS150, TS200 und TS300 sind ungeschirmte Systeme, die einfach zu bedienen, kostengünstig und sehr präzise sind. Damit können Substrate und Wafer von 50, 150, 200 und 300 mm Durchmesser mit höchster Genauigkeit analysiert werden.

Diese manuellen Probe Stations können so konfiguriert werden, dass sie eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Design Validierung, Zuverlässigkeitsuntersuchungen, MEMS, Leistungs- und Bauelemente-Tests sowie Charakterisierung und Modellierung unterstützen.

Die TS150-THZ Probe Station ist ein kostengünstiges und manuelles Labortestsystem, speziell für Präzisionsanalysen von Substraten und 150 mm Wafern im Hochfrequenzbereich (110 GHz bis 1 THz). Das System ist eine extrem stabile aber einfache Plattform mit großen Sondenhalterplatten. Jede dieser Systemkomponenten wird benötigt um eine Vielzahl von HF und mmW-Anwendungen im Bereich von 110 GHz bis 1 THz abzudecken. Messgeräte für Load-Pull und HF Rauschanalysen werden ebenfalls unterstützt.

Das TS200-SE System beinhaltet das sogenannte ShieldEnvironment™, was eine optimale Abschirmung gegen elektromagnetische Felder darstellt. Diese ermöglicht sehr rauscharme Messungen auf Halbleiterwafern für eine Vielzahl von Applikationen wie Charakterisierung und Modellierung, HF und mmW-Anwendungen, Fehleranalysen, Design Validierung und Hochstrom-/Hochspannungstestreihen für Wafer bis 200 mm Durchmesser.