High Power Probe Stations

10 kV – 600 A

MPI High-Power Gerätecharakterisierungssysteme sind speziell für die Prüfung von On-Wafer High-Power Applikationen konzipiert. Diese Systeme unterstützen bis zu 3 kV triaxial / 10 kV koaxiale und 600 A (gepulste) genaue Messungen und bieten gleichzeitig eine geräuscharme, vollständig abgeschirmte Testumgebung.

High Power Probe Systemlösungen

MPI High-Power Probe Systemlösungen bieten eine Vielzahl von manuellen und automatisierten Geräteversionen an, um eine Lösung für verschiedene Budgets und spezifische Anforderungen zu bieten.
 
MPI TS150-HP und TS200-HP Probe Systeme bieten eine komplette 150mm und 200mm On-Wafer-Lösung für den high Power Bereich. Sie sind so konstruiert, dass sie niedrige Kontaktwiderstandsmessungen von Leistungshalbleitern unter großenTemperaturunterschieden erreichen.
 
MPI automatisierte High-Power Systeme bieten einen hochen Durchsatz durch Programmierung von Step-and-Repeat-Funktionalität mittels der MPI SENTIO® Prober Control Software.
 
Der TS2000-DP unterstützt einen offenen und flexiblen Messaufbau mit Temperaturen von bis zu 300°C. Durch das offene Tisch-Design kann das System für eine Spannung von mehr als 10 kV aufgerüstet werden und bietet somit einen Mehrwert für Ihre Investition.
 
Der TS2000-HP ist mit einem MPI ShielDEnvironment ™ ausgestattet und arbeitet in einem Temperaturbereich von -60°C bis 300°C. Das System ist eine Weiterentwicklung des TS2000-SE von MPI und bietet eine höhere Funktionalität für den Durchsatz; z. B. automatische Wafer-Beladung, Hot-Wafer-Swap-Fähigkeit und geräuscharme Abgeschirmung des Systems.

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