Ultra Fast Dynamic RDS(ON)

Characterization system for GaN-devices

The Ultra Fast Dynamic RDS(on) test is designed for characterization of GaN transistors.

A critical requirement in power electronics is obtaining a very low ON resistance (RON) immediately after switching from a high-voltage OFF state to a low-voltage ON state.

 

The Ultra Fast Dynamic RDS(on) test is able to measure the RDS(on) immediately after switching between OFF state and ON state. The first RDS(on) value is generated after approx. 1 μs.

 

The system is designed for currents up to 100 A (pulsed) or voltages up to 1 kV. Due to the special design of the probecard it is possible to measure further parameters (leakage, and others).

Trennlinie

Trennlinie

Features & Benefits

  • Off-state 1 kV
  • On-state 100 A
  • 100 ns sampling time resolution
  • Integrated wafer test solution for
  • MPI TS2000-HP & TS3000-HP

 

  • Active probe card
  • Gate pulse length 1-100 μs
  • Unipolar n-channel or p-channel
  • Output characteristic
  • Transfer characteristic
Trennlinie
Online informieren

Finden Sie ein passendes Produkt
für Ihre Anforderungen
und wir liefern es.

Service nutzen

Wir erstellen Ihnen gern eine individuelle Applikation zu jedem Messgerät.

ATV anrufen

Sie haben Fragen oder suchen eine Lösung? Wir beraten Sie gern unverbindlich.

+49 (0) 351 2138640

Kontaktieren Sie uns
Anschrift: Heilbronner Str. 17, 01189 Dresden, Germany
Telefon: +49 (0) 351 2138640
Telefax: +49 (0) 351 2138650
E-Mail: atv@atv-systems.de
© 2019 AutomatisierungsTechnik Voigt GmbH
First Contact in Measurement Technology

Diese Webseite verwendet Cookies, um die Nutzung der Seite zu überprüfen. Mit der Nutzung unserer Dienste erklären Sie sich mit der Verwendung von Cookies einverstanden.