PIV 1002 - Gepulste IV-Messeinheit

PIV1002 ist ein Laborsystem zur Charakterisierung und Untersuchung der Zuverlässigkeit (gepulste HCI) von Hochspannungs-MOSFETs. Das System wurde entwickelt, um an MOSFET gepulste Messungen bei hohen Spannungen und Strömen durchzuführen. Dadurch können Kennlinienfelder aufgenommen werden ohne das Bauelement thermisch zu belasten.

Für die Messung wird mit einer Hochspannungs-SMU ein interner Kondensator aufgeladen, der den nötigen Drain-Strom für die Pulsdauer zur Verfügung stellt. Während der Pulsausgabe werden die Gate-Puls-Spannung und der Drain-Strom mit hoher Bandbreite durch integrierte Oszilloskope abgetastet und dargestellt. Das erlaubt eine detaillierte Analyse der Pulsform und thermischen Effekten an dem Bauelement.

Measuring Outline

• Die Pulsbreite ist konstant. In der äußeren Messschleife wird die Gate-Spannung verändert. In der inneren Messschleife wird die Drain-Source-Spannung verändert. Damit lassen sich Kennlinienfelder bei kleinsten Pulsbreiten und kleinsten thermischen Belastungen generieren.
• Die Gate-Spannung ist konstant. In der äußeren Messschleife wird die Pulsbreite verändert. In der inneren Messschleife wird die Drain-Spannung verändert. Damit können Untersuchungen des thermischen Driftverhaltens des Bauelements durchgeführt werden.